問題描述
1.電子組件在生產之後需要測試
2.有兩種類型的組件隨機到達暫存區，比例是40和60%%
3.組件到達的時間間隔按照指數分佈exponential（0,30,1）
4.由兩個處理器測試組件1，三個處理器測試組件2；組件將被隨機送到第一個可用的處理器
5.測試時間爲120-150秒，服從隨機分佈。
解答：
一.建立基本模型，如下圖所示
二.設置參數
1.發生器參數設置
1）到達時間間隔爲：exponential(0, 30, 1) 2）發送至端口：隨機端口，設置如下
3）兩種組件類型，40%和60%比例設置
a.操作：使用觸發器---創建觸發---“設置臨時實體類型和顏色 ” b.操作：使用觸發器----創建觸發----“根據百分比設置臨時實體類 型”（本文設置類型1爲40%，類型2爲60%）
2.暫存區參數設置
設置暫存區的輸出端口順序爲：測試1、測試2、測試3、測試4、測試5
目的：實現兩個處理器測試組件1，三個處理器測試組件2
操作：臨時實體流---發送至端口：“根據返回值選擇輸出端口”---設置case1的port爲duniform（1,2）；設置case2，即默認項的port爲duniform（3,5）
說明：case1表示組件1，本文的處理器設備爲測試1和測試2，即綠色的處理器，其餘爲case2的處理器，所以case1的port端口設置爲duniform（1,2），case2的port端口設置爲（3,5）。
port項可以爲一個常數，也可以爲一個函數。
3.處理器參數設置
以測試1爲例說明，其餘相同設置
操作：處理器---加工時間----選擇“統計分佈”---選擇uniform函數，填寫參數120和150，即可
4.效果驗證
圖中截取的是運行了518.21s的畫面，其中紅色表示組件1，綠色表示組件2.完全符合題目要求
