《Classification of Manufacturing Defects in Multicrystalline Solar Cells With Novel Feature Descriptor》
代碼：https://download.csdn.net/download/qq_38784454/11203073
讀者欲使用此方法，請引用此論文，非常感謝。
此方法是基於CS-LBP的改進，此方法就是要確定中心像素與周圍像素的梯度關係，將中心像素與一個閾值（鄰域像素的平均值）比較，如果大於此閾值則產生二進制碼1，否則產生0。將產生的二進制碼編入CS-LBP中即可。計算實例如下圖：
改進後此方法對梯度信息的描述能力更強，並對複雜背景抗干擾能力增強。下圖爲改進前後效果對比：
