6可靠性试验条件
6.1 机械完整性试验、耐久性试验、物理特性试验试验条件
机械完整性试验、耐久性试验、物理特性试验的试验条件如表 1中所示。
6.2 电磁兼容试验条件
射频电磁场辐射抗扰度的试验条件见GB/T 17626.3-1998第7节（试验等级2）。
射频电磁场辐射发射试验条件见GB/T 9254-2001第8节（B级信息技术设备）。
表 1 试验条件
|
试验类别 |
试验项目 |
依据标准 |
试验条件 |
抽样方案 | ||||
|
LTPD |
SS |
C | ||||||
|
机械完整性 |
模块非工作状态 |
机械冲击 |
MIL-STD-883G-2002.4；Telcordia GR-468-CORE 3.3.1.1 |
1）冲击脉冲峰值300g，脉冲持续时间3.0ms， X1, X2, Y1, Y2, Z1和Z2共6轴向冲击各次数5次a；
2）冲击脉冲峰值50g，脉冲持续时间11.0ms， X1, X2, Y1, Y2, Z1和Z2共6轴向冲击各次数5次b。 |
20 |
11 |
0 | |
|
变频振动 |
MIL-STD-883G-2007.3 |
条件A（峰值加速度20g），频率20Hz~2000Hz～20Hz；振动频率循环周期大于4min，在X、Y、Z三个方向各进行循环4次。 |
20 |
11 |
0 | |||
|
光纤完整性 |
光纤侧拉 |
Telcordia GR-468-CORE 3.3.1.3 |
0.25kg/0.5kgc；900；距离模块22cm～28cm |
20 |
11 |
0 | ||
|
光纤扭转 |
Telcordia GR-468-CORE 3.3.1.3 |
0.5kg/1.0kgd；900；距离模块3cm；00～900～00，10个循环 |
20 |
11 | ||||
|
光纤保持力 |
Telcordia GR-468-CORE 3.3.1.3 |
0.5kg/1.0kgc；距离光纤未扣牢端至少10cm,加载速率为400μm/s,保持1分钟 |
20 |
11 | ||||
|
插拔耐久性 |
Telcordia GR-468-CORE 3.3.1.4 |
200次 |
20 |
11 |
0 | |||
|
模块工作状态 |
变频振动e |
Telcordia GR-468-CORE 3.3.1.1 |
峰值加速度5g，频率10Hz~100Hz~10Hz；振动频率循环周期大于1min，在X、Y、Z三个方向各进行循环10次。 |
20 |
11 |
0 | ||
|
耐久性 |
模块
非工作状态 |
恒定湿热 |
Telcordia GR-468-CORE 3.3.2.3 |
+850C,85%RH, ≥500h |
20 |
11 |
0 | |
|
高温存储 |
Telcordia GR-468-CORE 3.3.2.1 |
＋850C，≥2000h |
20 |
11 |
0 | |||
|
温度循环 |
Telcordia GR-468-CORE 3.3.2.2 |
温循范围-400C~+850C，循环周期大于100次/500次f，要求温度变化率≥100C/min，高低温保持时间≥10min。 |
20 |
11 |
0 | |||
|
低温存储g |
Telcordia GR-468-CORE 3.3.2.1 |
-400C，≥72h |
20 |
11 |
0 | |||
表1 （续）
|
试验类别 |
试验项目 |
依据标准 |
试验条件 |
抽样方案 | |||
|
LTPD |
SS |
C | |||||
|
耐久性 |
模块工作状态 |
恒定湿热h |
Telcordia GR-468-CORE 3.3.2.3 |
+850C,85%RH, ≥1000h |
20 |
11 |
0 |
|
高温工作 |
Telcordia GR-468-CORE 3.3.3.1 |
＋700C/＋850Ci，≥2000h |
20 |
11 |
0 | ||
|
温度循环j |
Telcordia GR-468-CORE 3.3.2.2 |
温循范围-400C~+850C，（测试具备TEC的模块TEC功能需打开），循环周期大于100次/500次f，要求温度变化率≥100C/min，高低温保持时间≥10min。 |
20 |
11 |
0 | ||
|
耐湿 |
Telcordia GR-468-CORE 3.3.3.2；MIL-STD-883G-1004.7 |
循环次数为20k |
20 |
11 |
0 | ||
|
物理特性试验 |
ESD阈值 |
MIL-STD-883G-3015.7 |
第0类：<250V；
第1类：
1A：250V～499V；
1B：500V~999V；
1C：1000~1999V；
第2类：2000V~3999V；
第3类：
3A：4000V~7999V；
3B：≥8000V。 |
－ |
6 |
0 | |
|
a 该测试条件适用于质量≤0.225Kg的模块。
b 该测试条件适用于质量>0.225Kg且≤1.0Kg的模块。
c 该测试项条件a/b中，a适用于紧包缓冲层光纤，b适用于松包缓冲层光纤和加强性光纤。
d 该测试项条件a/b中，a适用于紧包缓冲层光纤和松包缓冲层光纤，b适用于加强性光纤。
e 该测试项为可选项。
f 测试条件中100次适用于工作环境为CO的应用，500次适用于工作环境为UNC的应用。
g 该测试项为可选项。
h 该测试项为可选项,仅适用于非密封模块。
i 测试条件中＋700C适用于工作环境为CO的应用，＋850C适用于工作环境为UNC的应用
j 该测试项为可选项。
k 该测试项适用于模块工作环境为UNC的应用，当在设备内部模块的工作温度变化速率量级在小时或几小时时，测试的循环次数可减小为10次，但最后的低温子循环不能减少。 | |||||||
7 可靠性试验方法
7.1 机械完整性试验、耐久性试验、物理特性试验试验方法
机械完整性试验的试验方法分别见MIL-STD-883G的试验方法2002.4和2007.3，以及Telcordia GR-468-CORE(2004)的3.3.1节。
耐久性试验的试验方法分别见Telcordia GR-468-CORE(2004)的3.2节和3.3节，以及MIL-STD-883G的试验方法1004.7。
物理特性试验的试验方法见MIL-STD-883G的试验方法3015.7。
7.2 电磁兼容试验方法
射频电磁场辐射抗扰度的试验方法见GB/T 17626.3-1998第8节（试验等级2）。
射频电磁场辐射发射试验方法见GB/T 9254-2001第9节（B级信息技术设备）。
8 可靠性试验失效判据
8.1 机械完整性试验、耐久性试验和物理特性试验失效判据
机械完整性试验、耐久性试验和物理特性试验的各项试验分别完成以后，在相同测试条件下，出现以下任何一种情况，则判定该模块失效：
1）光模块不能正常工作，或者光模块封装外壳出现裂纹、标签丢失无法恢复等显著损伤；
2）光接口的接口指标不满足相应技术要求，具体技术要求见YD/T 986-1998（155Mbit/s和622Mbit/s）、YD/T 1294-2003（ATM无源光网络,155Mbit/s）、YD/T 1321.1-2004（2.5Gbit/s）、YD/T 1321.2-2004（10Gbit/s）、YD/T 1351-2005（CWDM）以及YD/T 1352-2005（千兆以太网）等；
3）发送光接口输出功率的变化大于1dB（仅适用于155Mbit/s和622Mbit/s）或者3dB（仅适用于1.25Gbit/s、2.5Gbit/s和10Gbit/s），或者接收光接口接收灵敏度的变化大于1dB（仅适用于155Mbit/s）或2dB（适用于622Mbit/s、1.25Gbit/s、2.5Gbit/s和10Gbit/s速率）；
4）发送光接口输出中心波长与标称中心波长的差值绝对值小于0.08nm（仅适用于通路间隔为100GHz DWDM系统的光收发合一模块）或0.04nm（仅适用于仅适用于通路间隔为50GHz DWDM系统的光收发合一模块）；
5）波长可调光收发合一模块的波长（频率）调整时间的变化值待定；
6） 模块制造商或者设备制造商制定的光通信用收发合一模块可靠性试验其它失效判据。
8.2 电磁兼容试验失效判据
在进行电磁兼容试验时，在相同的测试条件下，出现以下任何一种情况，则判定该模块的电磁兼容试验不合格：
1）射频电磁场辐射抗扰度试验的电磁干扰作用的测试过程中，模块的比特误码个数发生变化；
2）射频电磁场辐射发射试验的整个过程中，模块辐射强度大于B级信息技术设备的要求。
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