AEC-Q100是汽車集成電路（IC）的重要應力測試標準。由AIAG汽車組織開發的用於集成電路的資格認證測試流程。包括了一系列應力測試失效機理、最低應力測試認證要求的定義及集成電路認證的參考測試條件。這些測試能夠模擬跌落半導體器件和封裝失效，目的是能夠相對於一般條件加速跌落失效。
這區測試應該是有區別的使用，每個認證方案應檢測以下：
a、任何潛在的新的和獨特的失效機理
b、任何應用中午顯示但測試或條件可能會導致失效的情況
c、任何相反地會降低加速失效的極端條件和應用
AEC-Q100是什麼？
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