調試相關介紹
調試原理：STM32F10xxx使用的Cortex-M3內核含硬件調試模塊，允許內核在取消（指令短點）或訪問數據（數據斷點）時停止，並可以查詢內核的內部狀態和系統的外部狀態，完成查詢後，內核與外設可以被複原，程序也可以繼續執行。
JTAG(Joint Test Action Group，聯合測試工作組)是一種國際標準測試協議（IEEE 1149.1兼容），主要用於芯片內部測試。標準的JTAG接口是4線：TMS、TCK、TDI、TDO，分別爲模式選擇、時鐘、數據輸入和數據輸出線。（20個引腳）
具有JTAG口的芯片都有如下JTAG引腳定義：
TCK——測試時鐘輸入；
TDI——測試數據輸入，數據通過TDI輸入JTAG口；
TDO——測試數據輸出，數據通過TDO從JTAG口輸出；
TMS——測試模式選擇，TMS用來設置JTAG口處於某種特定的測試模式。
SWD（serial wire debug，串行調試），與JATG區別的另一種調試方式。標準接口爲雙線，有四到五個引腳。下圖中，雙線接SWDIO，SWCLK即是SWD的接線方式。（或者通過引腳接SWDIO，SWCLK，VCC，GND，最多再接一個復位引腳RST）
以上兩種調試方法比較
1）SWD模式比JTAG在高速模式下更加可靠，在大數據量的情況下JTAG下載程序會失敗，但是SWD發生的機率會小很多，基本使用JTAG的模式下可以直接使用SWD模式的，前提是仿真器支持。
2）在GPIO口剛好缺一個的時候，可使用SWD仿真，這種模式支持更少的引腳；
3）在PCB設計體積有限的時候推薦使用SWD模式。
標準 20 針 JTAG/SWD 接口電路 （基於正點原子精英開發板）
相關調試端口腳：
keil5中使用ST-LINK調試（SWD模式）
1.安裝 ST-LINK 的驅動 ,用相應USB線將設備，ST-LINK，開發板連接,並用灰排線連接 ST-LINK 和開發板的 JTAG接口。（JTAG和SWD兩種調試是共用接口）
2.打開需要調試的工程，點擊魔術棒 ，打開 Options for Target 選項卡，在 Debug 欄選擇仿真工具爲 ST-Link Debugger，並勾選 Run to main() 。
3.點擊Settings，來設置 ST-LINK 的一些參數 ，選擇SW 模式。 Max Clock 設置爲最大的4MHz。
4.在 Utilities 選項卡里面設置下載時的目標編程器
5.後點擊 Settings， 進入 FLASH 算法設置 ，選中 Reset and Run 選項
6.之後經過編譯再點擊keil中的LOAD按鈕，程序即可下載。
