這次會議還有一篇關於關於簡化CCLM操作的提案也值的大家學習關注。
在WD 5.0中，包括相鄰樣本位置推導，亮度下采樣和線性模型參數推導的CCLM過程具有許多條件分支，這在硬件和軟件實現方面是不期望的。因此所提出的方法對於不可用的參考樣本，借用WD中幀內預測的參考樣本填充過程，使用可用參考樣本填充。由此簡化CCLM的這些過程。簡化的部分如下表所示：
①簡化相鄰樣本位置推導過程，固定地選擇四個點
②簡化亮度下采樣過程，去除大多數條件分支和各種濾波器，從而使用統一的亮度下采樣濾波器。
③簡化線性模型參數的推導，始終只用四個點，節省了一些額外操作
首先針對②，有如下測試（Test1）：
其中紅色框框起來的部分是內部的點，原來用於內部點的亮度下采樣濾波器有好多種，而且由於有的相鄰像素有效或者無效，因此會有好多種下采樣分支以及多種濾波器。
由於像素點的填充，相鄰位置總會有參考像素，因此就可以省去很多操作分支以及濾波器，如下圖所示：
上相鄰參考像素的下采樣濾波的簡化
左相鄰參考像素的下采樣濾波的簡化
針對①，選取固定位置的四個點做了如下測試（Test2）
兩個測試結果如下表所示：
