干涉法測微小量(牛頓環測透鏡的曲率半徑)

干涉法測微小量(牛頓環測透鏡的曲率半徑)

實驗簡介

光的干涉現象表明了光的波動的性質,干涉現象在科學研究與計量技術中有着廣泛的應用。在干涉現象中,不論何種干涉,相鄰干涉條紋(亮紋或暗紋)的光程差的改變量都等於相干光的波長,可見光的波長雖然很小,但干涉條紋間的距離或干涉條紋的數目是可以計量的。因此,通過對干涉條紋數目或條紋移動數目的計量,可以得到以光的波長爲單位的光程差。

    利用光的等厚干涉可以測量光的波長,檢驗表面的平面度,球面度,光潔度,以及精確測量長度,角度和微小形變等。

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