蓝桥 BASIC-23 芯片测试

芯片测试

问题描述
　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3

根据题意，好芯片才能检测出正确的结果，而坏芯片随机给出待测芯片的结果，由于好芯片数量总大于坏芯片的数量，所以正确的检测总大于错误的检测。所以检测结果的数量较多者为正确检测结果。

#include<iostream>
using namespace std;
int main()
{
	int i,j,n;
	int yes=0,no=0;
	cin >> n;
	int a[n+1][n+1];
	for(i=1;i<=n;i++)
		for(j=1;j<=n;j++)
			cin >> a[i][j];
	for(j=1;j<=n;j++)
	{
		yes = no = 0;//初始化
		for(i=1;i<=n;i++)
		{
			if(a[i][j]==1)
				yes++;
			if(a[i][j]==0)
				no++;
		}
		if(yes > no)
			cout << j << " ";
	}
	return 0;
 } 

本题中需注意变量初始化。
观察检测结果时，以列为单位观察对某一芯片的检测结果