原创 邊界掃描(boundary scan)

邊界掃描(Boundary scan )是一項測試技術,是在傳統的在線測試不在適應大規模,高集成電路測試的情況下而提出的,就是在IC設計的過程中在IC的內部邏輯和每個器件引腳間放置移位寄存器(shift register).每個移位寄存器叫

原创 INTEST/EXTEST SCAN 的學習

intest scan的一些基本知識。INTEST scan指的是對IP 內部的scan cell的掃描測試,針對IP內部的flip-flop進行shift/capture的操作。和INTEST SCAN 對應的就是EXTEST SCAN,

原创 DC綜合及仿真驗證和DFT測試

       綜合技術是提高設計產能的一個很重要的技術,沒有綜合技術的發展就不可能用HDL實現電路的設計,因爲HDL開始是用來供電路仿真建模使用的,到了後來才把其中一部分子集作爲可綜合的語言,也就是RTL CODE。很多人入門都用HDL做

原创 Verdi文檔路徑

1.echo $VERDI_HOME 2.cd $VERDI_HOME/doc 3.okular VerdiTut.pdf& Verdi主要在以下方面使用     Verdi使用情形:        IC驗證工程師(Debug)     

原创 a no-risk path to IEEE P1687

You’ve heard all about IJTAG (IEEE P1687) [1,2,3], a new standard for accessing embedded test and 
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原创 S0到S5狀態講解

ACPI(高級配置和電源管理接口)的六種工作狀態Advanced Configuration and Power Management InterfaceACPI表示高級配置和電源管理接口( Advanced Configuration a

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原创 指令緩存

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原创 Low Power之CPF/UPF

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AXI(Advanced eXtensible Interface)是一種總線協議,該協議是ARM公司提出的AMBA(Advanced Microcontroller Bus Architecture)3.0協議中最重要的部分,是一種面向高

原创 MBIST:用於嵌入式存儲器的可測試設計技術

MBist技術可以自動實現存儲器單元或陣列的RTL級內建自測試電路,MBIST的EDA工具支持多種測試算法的自動實現,可針對一個或多個內嵌存儲器自動創建BIST邏輯,並完成BIST邏輯與存儲器的連接,此外MBIST結構中還可包括故障自動診斷

原创 穆帥:曼聯已初現我的烙印;爭冠激烈度必將空前

 穆里尼奧在曼聯對陣西漢姆聯賽前表示自己已火力全開。他表示自己將會在登陸曼聯首個賽季贏得歐聯杯,聯賽盃和社區盾冠軍後繼續取得成功。穆帥還表示現在的曼聯正在打下穆氏的烙印並且流淌着他自己的DNA。 去年夏天,曼聯在轉會市場上花費1.67億英鎊