1) 系統測試用例設計已經通過評審
2) 按照系統測試計劃完成了系統測試
3) 系統測試的功能覆蓋率達100％
4) 系統的功能和性能滿足產品需求規格說明書的要求
5) 在系統測試中發現的錯誤已經得到修改並且各級缺陷修復率達到標準
6) 系統測試後不存在A、B、C類缺陷
7) D類缺陷允許存在，不超過總缺陷的5％
8) E類缺陷允許存在，不超過總缺陷的10％
殘留缺陷評估：
1）殘留缺陷數等於最後一次迴歸測試發現的缺陷數。
2）
二、最有價值的準則，是以確切的數量來描述結束測試的條件；需要涉及對錯誤發現時期的預測。
涉及：
缺陷率（Defect Rate）：執行完全部測試用例後發現的缺陷比率；
缺陷密度（Defect Density）：每單位長度（一般位1000行）代碼或FP（Function Point）發現的缺陷數
測試覆蓋率（Test Coverage）：測試時代碼或use case被覆蓋的程度；