[藍橋杯]芯片測試

[藍橋杯][基礎練習VIP]芯片測試

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題目描述
有n（2≤n≤20）塊芯片，有好有壞，已知好芯片比壞芯片多。

每個芯片都能用來測試其他芯片。用好芯片測試其他芯片時，能正確給出被測試芯片是好還是壞。而用壞芯片測試其他芯片時，會隨機給出好或是壞的測試結果（即此結果與被測試芯片實際的好壞無關）。

給出所有芯片的測試結果，問哪些芯片是好芯片。
輸入
輸入數據第一行爲一個整數n，表示芯片個數。

第二行到第n+1行爲n*n的一張表，每行n個數據。表中的每個數據爲0或1，在這n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的數據表示用第i塊芯片測試第j塊芯片時得到的測試結果，1表示好，0表示壞，i=j時一律爲1（並不表示該芯片對本身的測試結果。芯片不能對本 身進行測試）。
輸出
按從小到大的順序輸出所有好芯片的編號
樣例輸入
3

1 0 1

0 1 0

1 0 1
樣例輸出
1 3

#include<iostream>
using namespace std;

int main()
{
	int n; 
	cin>>n;
	int nn[25][25];
	for(int i=1;i<=n;i++)
		for(int j=1;j<=n;j++)
			cin>>nn[i][j];
	for(int i=1;i<=n;i++)
	{
		int s=0;
		for(int j=1;j<=n;j++)
			s+=nn[i][j];
		if(s>(n/2))
			cout<<i<<" ";
	}
}

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