基於示例infer_simple.py
修改165行vis_utils.vis_one_image
爲vis_utils.vis_one_image_opencv
在detectron.utils.vis
中新增def cut_mask(img, mask)
def cut_mask(img, mask):
mask = mask*255
# 灰度圖片‘cv2.cvtColor(mask,cv2.COLOR_BAYER_GB2GRAY)’轉成三通道
mask = cv2.cvtColor(cv2.cvtColor(mask,cv2.COLOR_BAYER_GB2GRAY),cv2.COLOR_GRAY2BGR)
cv2.imshow('mask',mask)
ROI = cv2.bitwise_and(mask, img)
cv2.imshow('roi', ROI)
return ROI
在vis_one_image_opencv
方法中
註釋
im = vis_mask(im, masks[..., i], color_mask)
改爲調用
im = cut_mask(im, masks[..., i])
此時遮罩區域截圖已經完成
查看上方的vis_bbox
方法可以獲取識別框的位置與大小,這樣就可以截取指定位置的遮罩區域。
補充:基於mask_rcnn註釋152行masked_image = apply_mask(masked_image, mask, color)
改爲上述調用。