测试性常用的术语
机内测试（BIT）
系统和设备内部提供的检测盒隔离故障的自动测试能力。
固有测试性
仅取决于产品设计，不受测试激励数据和响应数据影响的测试性。
反映设计对测试过程的支持程度。
中央测试系统
装备内用于采集各种测试相关数据，
集中进行分析、处理、贮存和显示，
提供性能检测、故障诊断或预测和维修等信息的综合测试系统。
固有测试性设计
基于测试性的结构设计
1.产品结构和功能的划分
2.测试的可控性
3.测试通路（用于观测）
4.初始化
5.元器件选择
6.兼容性
嵌入式诊断方案设计
1.BIT配置方案
2.性能检测方案
3.中央测试系统配置方案