7 測試實驗
7.1 傳輸測試
測試1：系統時鐘爲？MHz，採用3.3VLCOMSIO進行數據傳輸，發送端發送8位的累加值，傳輸後經過在接受端對數據進行恢復並判斷，測試平臺爲hr03的evb板，數據線爲普通的杜邦線，線長約15cm。
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系統時鐘 |
測試時間 |
錯誤數據個數 |
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20M |
1h |
0 |
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80M |
1h |
0 |
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100M |
1h |
0 |
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120M |
1h |
0 |
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120M |
32h |
失敗，時鐘錯位，導致解碼全部出錯 |
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140 |
1h |
每秒1個錯誤 |
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80M |
64h |
0 |
測試2：系統時鐘爲？MHz，採用LVDS的IO標準進行數據傳輸，發送端發送8位的累加值，傳輸後經過在接受端對數據進行恢復並判斷，測試平臺爲hr03的evb板，數據線爲普通的杜邦線，線長約15cm。
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系統時鐘 |
測試時間 |
錯誤數據個數 |
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120M |
48h |
0 |
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120 |
24h |
0 |
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160M |
72h |
0 |
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170M |
72h |
0 |
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180M |
1h |
1個/s |
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200M |
1h |
100個/s |
測試3：採用LVDS的IO標準進行數據傳輸，發送端發送8位的累加值，傳輸後經過在接受端對數據進行恢復並判斷，測試平臺爲hr03的evb板，數據線爲普通的杜邦線，線長約15cm。
加熱處理：用熱風槍對芯片進行加熱
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系統時鐘 |
測試時間 |
錯誤數據個數 |
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170M |
5min |
0 |
製冷處理：用液氮對芯片進行製冷
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系統時鐘 |
測試時間 |
錯誤數據個數 |
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170M |
5min |
0 |
測試4：採用LVDS的IO標準進行數據傳輸，發送端發送8位的累加值，傳輸後經過在接受端對數據進行恢復並判斷，測試平臺爲m7的evb板，數據線爲普通的杜邦線，線長約15cm。
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系統時鐘 |
測試時間 |
錯誤數據個數 |
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340M |
12h |
0 |
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350M |
1h |
0 |
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360M |
1h |
1個/s |
加熱處理：用熱風槍對芯片進行加熱
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系統時鐘 |
測試時間 |
錯誤數據個數 |
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340M |
5min |
0 |
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350M |
5min |
出錯 |
製冷處理：用液氮對芯片進行製冷
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系統時鐘 |
測試時間 |
錯誤數據個數 |
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340M |
12h |
0 |
