最近咱行業在討論光模塊可靠性驗證時，有個矛盾的指標，光模塊驗證的溫度循環次數，有說10次，又說20次, 100次，甚至是500次的。
看兩個行業標準中的次數定義
站在我的角度，這些標準的引用都有明確的來源，也都對，（下文做分析）。
針對於5G前傳光模塊而言，我的看法是循環次數是500次，溫度設定是-40℃~85℃
以下是GR-468（2004）中，原文對於上面10/20/100/500次的說明
在第116頁中，
The procedure for temperature cycling tests is generally based on MIL-STD-883E, Method 1010.7, Temperature Cycling，However, ...., and considerably more cycles than the minimum of 10 cycles listed in standard
這句話的意思是，美軍標883中有對溫度循環的測試方法，標準定義是10次，但是，注意這個however的轉折，我們（光器件，光模塊）要考慮比10次更多的循環次數
在142頁，
All optoelectronic modules and integrated modules for CO applications，關鍵詞是CO，就是中心機房應用的光模塊，溫度和次數，–40°C/+85°C, 100 cycles
All optoelectronic modules and integrated modules for UNC applications，關鍵詞是UNC，就是非中心機房應用的光模塊，溫度和次數–40°C/+85°C, 500 cycles，咱們5G前傳的光模塊，是在UNC環境中的，是非中心機房的應用，所以定義爲500次
還有人說，這個500次的溫循，是定義在GR468的3.3.2，中的。
3.3.2，是定義的有源器件的非工作狀態下的測試
3.3.3，纔是有源器件工作狀態下的測試
但是，在3.3.2中有一句話
that although this test is listed as a non-powered environmental stress test, the device being tested may be powered, if desired
儘管這個測試項目是基於非工作狀態下（non-powered）的環境壓力測試，但是如有必要，可以在工作狀態下測試（device being tested may be powered）
這是光模塊帶電環境下，溫循次數的來源。
下文有-10度，到65度，循環20次的說法，如有必要可以降低至10次。
小結一下：
在GR468中
模塊不帶電的溫循測試定義中，說，如有必要，光模塊可以在帶電環境下測試，測試的次數要大於10次，定義爲中心機房的光模塊爲100次循環，非中心機房的光模塊爲500次循環
在模塊的耐溼性測試中，有定義，高溫爲65攝氏度（高溼），低溫零下10度，不控制溼度，循環次數爲20次（24小時爲一個循環），如有必要，循環次數可以降低爲10次
針對於5G前傳光模塊，較爲符合GR468中定義的-40~85℃ 500次循環的要求。