DFT現在已經演進成DFX（X包括：T，D，M）
T： Test
D：Debug，CPU2JTAG, JTAG2CPU,
M：Manufactory，PVT Monitor
DFT的主要測試包括四大塊。
DC Scan主要還是測試stuck-at相關的，不涉及timing相關的，測試的頻率比較低。
AC Scan就是at speed測試。
Transition fault 和 Path delay fault 主要和Timing有關。
Scan Base和Logic base的區別在於，Scan base的激勵產生和比較是在芯片外面，而Logic base，激勵產生和比較電路都在芯片內部。
由於增加了Logic chain，所以，Routing的難度會增加。
Mbist，主要是通過內置的電路，不斷地對memory進行寫，然後讀出來，進行比較，來確認Logic功能的正確。
Memory Repair，主要是在Memory上多預留一組column或者row。當某些芯片監測到RAM有壞塊，就可以通過預留的部分去替換。替換信息，會燒到Fuse裏面。在系統上電的時候，會將這部分信息讀出，然後實現一個替換。
在實際的芯片設計中，Memory的替換以及Fuse的信息如何在上電時導入，需要在架構設計的時候考慮到。
另外一個，就是預留Memory，需要增加面積。所以，需要在cost和yield rate之間做個選擇。不一定所有的memory都要考慮repair的功能。
