關於Keil調試STM32F407的 ADC過程異常：不進中斷，EOC標誌莫名清零等問題的討論與解決

設置了F407中的3路ADC工作於獨立模式，每次轉換結束後產生中斷。
由於程序比較龐大了，決定採用調試方式測試代碼，結果發現程序經常無法正常進入中斷，每次單步運行時，啓動ADC後，EOC標識置位；再運行一步，其EOC標誌位會自動清零，導致調試過程中斷根本無法進入。其過程如圖：

從圖中可以看到，啓動ADC1轉換後，EOC1置位了。單步運行一步如圖:

可以看出EOC1標誌位自動清零了，由於單步運行，單步過程並沒有進入中斷EOC1就被清0 了，同樣三個ADC都是這樣的情況，這個問題困擾了我很久，查看了無數遍數據手冊，也懷疑了中斷的問題，看了M4內核手冊，看了無數遍庫代碼，網絡搜索了相關信息都沒有發現問題及找到解決辦法。甚至懷疑了硬件供電問題，把所有電源情況測量了一遍。並且如果斷點不設置在此位置，設置在中斷中，會出現死機的情況。
後來一個一個ADC調試發現好一點，但是還是有點問題，最後不知道怎麼莫名其妙的好了一些。
其實在看數據手冊過程中，其有一段話
當時看到這個解釋的時候，我一直認爲我的代碼沒有在任何中斷外度去過ADC的轉換結果，怎麼就會清零了，後來莫名其妙的好了，也不知道自己點了啥地方，一直磨了我6七個小時，最後無奈帶小孩睡覺。
直到第二天，又出現了這樣的情況，很是擔心這個問題，想往下繼續寫代碼，但是又想到這個問題以後出現咋整，頻率還高。無意中我退出調試後，硬件復位自由運行，結果程序沒有一點問題，反覆試了幾次都一樣，問題就在：調試出現，復位自動運行沒有任何問題。
通過反覆思考：可以肯定的是調試過程中EOC標誌被清0了，爲什麼呢？那後面的程序我是調試還是不調試了？忽然想起圖3中的話，我調試過程中，添加了peripherals查看了ADC1、ADC2、ADC3寄存器，也就是圖1和圖2中右下角，那不是就讀取了ADCx->DR麼？會不會導致EOC清零？於是我取消了ADC1外設查看，調試運行如圖4所示：

發現ADC1的EOC標誌位不會被清零了，而其他2個還是會被清零，可以肯定的是：在調試過程中，查看ADC寄出器的值讀取了DR寄存器，肯定會導致ADC的EOC標誌位清零。這裏也明白了STM32爲什麼要給出C_ADC寄存器用來查看各個ADC運行狀態了，原來一直覺得多餘，看來還是有目的的。所以在ADC調試過程中，對於EOC標誌位的查看一定要從C_ADC中的SR寄存器查看，不然會引起程序死機（如果你的程序具有在等待EOC的情況）。