礦物顆粒的幾何特性
顆粒粒度大小的表示
演算直徑表示方法
三軸徑:長方體的長寬高(\(\mbox{Length}\),\(\mbox{Breadth}\),\(\mbox{Height}\));
序號 計算式 名稱 意義 1 \(\frac{l+b}{2}\) 二軸平均徑 顯微鏡下出現的顆
粒基本大小的投影2 \(\frac{l+b+h}{3}\) 三軸平均徑 算術平均 3 \(\frac{3}{\frac{1}{l}+\frac{1}{b}+\frac{1}{h}}\) 三軸調和平均徑 與顆粒比表面積相關 4 \(\sqrt{l\times b}\) 二軸幾何平均徑 接近於顆粒投
影面積的度量5 \(\sqrt[3]{l\times b\times h}\) 三軸幾何平均徑 假象等體積
正方體邊長6 \(\sqrt{\frac{2(l\times b+l\times h+b\times h)}{6}}\) 假象等表面積
正方體的邊長球當量徑:把顆粒看做相當的球;
與顆粒同體積的球的直徑:等體積球當量徑;
\[d_v=\sqrt[3]{\frac{6v}{\pi}} \]與顆粒同表面積的球直徑:等表面積球當量徑;
\[d_v=\sqrt{\frac{S}{\pi}} \]圓當量徑:與顆粒投影面積相等的圓直徑;
\[d_H=\sqrt{\frac{4A}{\pi}} \]統計直徑(定向徑):平行於一定方向(用顯微鏡)測得的線度;
馬丁直徑(Martin):沿一定方向將投影面積等分的線段長度;
弗雷特直徑(Feret):沿一定方向測量顆粒投影輪廓平行線間距;
帕特森量板測定法:用一塊玻璃量板代替線性目鏡微標尺,把各個顆粒的投影面積與相應的圓圈比較,得出投影直徑;
顆粒當量直徑的定義
符號 名稱 定義 公式 \(d_V\) 體積直徑 與顆粒具有相同體積的圓球直徑 \(V=\frac{\pi}{6}d^{3}_{V}\) \(d_S\) 面積直徑 與顆粒具有相同的表面積的圓球直徑 \(S=\pi{d^2_S}\) \(d_{SV}\) 面積體積直徑 與顆粒具有相同外表面和體積比的圓球直徑 \(d_{SV}=\frac{d^{3}_{V}}{d^2_S}\) \(d_{st}\) \(\mbox{Stokes}\)直徑 與顆粒具有相同密度且在同樣介質中
具有相同自由沉降速度(層流區)的直徑\(d_a\) 投影面直徑 與置於穩定顆粒投影面積相同的圓直徑 \(A=\frac{\pi}{4}d^2_a\) \(d_L\) 周長直徑 與顆粒的投影外形周長相等的圓的直徑 \(L=\pi{d_L}\) \(d_A\) 篩分直徑 顆粒可以通過的最小方篩孔的寬度 顆粒羣的平均粒度及粒級
粒級的表示方法
- 寬\(\Longrightarrow\)窄;
- 上篩孔直徑\(d_1\)和下篩孔直徑\(d_2\),用\([d_1, d_2]\)或者\(-d_1+d_2\);
粒羣的平均粒度
\(d_i\)爲各個級別的平均直徑,\(\gamma_i\)爲各個級別的質量百分率,\(D\)爲混合物料的平均直徑;
計算混合物料平均粒度的方法:
- 算術平均法:\(\frac{\sum_{i=1}^{n}{d_i{\gamma_i}}}{\sum_{i=1}^{n}{\gamma_i}}\);
- 幾何平均法:\({(\prod_{i=1}^{n}{d_i^{r_i})}}^{\frac{1}{\sum_{i=1}^{n}{\gamma_i}}}\);
- 調和平均法:\(\frac{\sum_{i=1}^{n}{\gamma_i}}{\sum_{i=1}^{n}{\frac{\gamma_i}{d_i}}}\);
- 算術平均徑 \(\gt\) 幾何平均徑 \(\gt\) 調和平均徑;
粒度分佈及粒度特性方程
粒度分佈:顆粒羣各粒度區間的顆粒含量佔總含量的百分比;
粒度組成:將不同粒度由粗到細排列、並指明各個粒級佔物料總量的質量百分率;
表徵粒度分佈常用的方法:
列表法:計算試驗後得到原始數據,用表格的形式表達出來;
作圖法:主要有矩形圖、粒度分佈圖、分佈函數圖;
矩形圖:把各個直方圖迴歸成一條光滑的曲線,形成顆粒頻率分佈曲線;
粒度分佈圖:粒羣粒度分佈函數圖也稱爲累積粒度特性曲線。曲線橫座標代表粒度,縱座標代表級別累計產率(包括正負累計:篩上累積爲正,篩下累積爲負);
正負累積粒度特性曲線的特點:對稱性。
- 可確定任何指定粒度的相應累積產率,或由指定累積產率查得相應粒度;
- 可求出任一粒級(\(d_1\sim d_2\))的產率,它的值等於粒度\(d_1\)與\(d_2\)的縱座標差值;
- 可由曲線的凹凸形狀判斷物料的粒度組成情況,凸粗凹細;
構造一個簡單的數學模型。
半對數座標
把橫座標取對數後,相鄰粒度級之間在橫軸上的間距:細粒級增長,粗粒級縮短。
全對數座標
把產率(縱座標)也取對數,這樣原來的曲線就變成的“直線”,故可建立簡單的線性模型,藉此確定顆粒粒度在物料中的分佈規律。
分佈函數圖
雖然平均粒徑\(D_{nL(A)}=D_{nL(B)}=D_{nL(C)}\),但是分散程度不同\(\sigma_{A}\lt\sigma_B\lt\sigma_C\);
函數法:函數法就是用數學方法將物料粒度分析數據歸納、整理,並建立能反映物料粒度分佈規律的數學模型—粒度特性方程;
高登\(\mbox{Gaudin}\)–安德列耶夫–舒曼\(\mbox{SHuzman}\)公式
\[Y=100\times{(\frac{D}{D_{\max}})}^k \]對一定的物料來說,\(k\)是常數,且一般磨碎產物的\(k\)值常介於0.7$\sim$1.0之間。該公式常用於表達顎式破碎機和圓錐破碎機的破碎產物的粒度特性。
羅遜\(\mbox{Rosion}\)—拉姆勒\(\mbox{Rammler}\)公式
\[R=100\times{e^{-bD^n}} \]\(b\)是與產物細度有關的參數,\(n\)是與物料性質相關的參數。適用於破碎的煤、細碎的礦石和磨細的礦料及水泥等。
顆粒的幾何特性
形狀係數
- 表面形狀係數:\(\Phi_S=\frac{S}{d^2}\);
- 體積形狀係數:\(\Phi_V=\frac{V}{d^3}\);
- 比表面積形狀係數:\(\Phi_{SV}=\frac{\Phi_S}{\Phi_V}\);
- 比表面積:\(S_V=\frac{S}{V}=\frac{\Phi_S\times{d^2}}{\Phi_V\times{d^3}}=\frac{\Phi_{SV}}{d}\),所以又有\(\Phi_{SV}=S_Vd\);
- 球形度:\(\Psi_S=\frac{S_{球}}{S_{粒}}\),一般來說$\lt\(1,當顆粒爲球形時\)=$1;
- 伸長度:\(n=\frac{長徑}{短徑}=\frac{l}{b}\);
- 扁平度:\(m=\frac{短徑}{厚度}=\frac{b}{h}\);
粒度的測量分析方法及選擇
篩分分析法
網目。
水力降塵法
顯微分析法
光散射法
電感法
方法 粒度範圍
(單位:\(\mathbf{\mu m}\))測量依據的性質或效應 表達的粒度 直接得到的分佈 篩分析
微目篩\(\gt\) 40
5 \(\sim\) 40篩孔 \(d\)篩 質量
體積光學顯微鏡
電子顯微鏡
全息照相0.25 \(\sim\) 250
0.01 \(\sim\) 5
2 \(\sim\) 500通常是顆粒投影像的某種尺寸或者某種相當尺寸 \(d_a,d_F,d_{ST}\) 個數 光散射
消光\(X\)光小角散射0.02 \(\sim\) 2000
0.005 \(\sim\) 0.1顆粒對光的散射或消光、顆粒對\(X\)光的散射 同效應的球直徑 質量(體積)、個數 重力沉降
離心沉降2 \(\sim\) 100
0.01 \(\sim\) 10懸浮液的濃度、密度或消光等隨時間或位置的變化 同沉降速度的球直徑,在層流區,即\(d_{st}\)
礦物鉗布特性及其解離
礦石中元素賦存狀態
- 富集態獨立礦物
- 分散態礦物