在上一節,我們分析了物理壞道與邏輯壞道的原理同成因,同時也提到了一個很重要的一個點,——PLIST基本缺陷列表與GLIST 成長缺陷列表
爲什麼對於硬盤來講,這兩個表這麼重要呢?因爲壞道的多少,是會影響讀盤的速度的。而且壞道還會對周邊的磁道蔓延,所以要把這一部分的壞道進行屏蔽處理,就要用到G轉P的操作。
PLIST基本缺陷列表Primary Defect List
在每隻硬盤在生產的時候,其實不可避免會產生有部分碟片磁介質不均勻,或者有損壞的地區,對於這部分在生產過程中產生的不穩定的扇區,工廠就會使用一個PLIST 來記錄下來。
硬盤廠家做低格時候做的一個列表。我們也叫做“永久缺陷表”,這些記錄地址在硬盤運行時候自動被跳過,所以P列表不影響硬盤的存取速度。
GLIST 成長缺陷列表GrownDefect List
G列表是在硬盤使用中出現的列表,我們也叫做“增長”缺陷表,這些記錄地址隨着用戶使用硬盤,硬盤檢測到某些區域可能存在缺陷(壞扇區),自動重新映射到出廠時預留的空間
用來保護用戶數據的訪問安全。由於G列表帶來的是重映射,而非跳過,也就意味着硬盤首先尋找到壞的區域然後再映射到安全區域,這樣就會造成硬盤存取速度的減慢.
看到這兒估計大家對GLIST 與 PLIST 只會有種快同慢的對比感覺。那麼是什麼原因造成的呢?爲什麼PLIST 不影響硬盤存取速度,而GlIST卻會影響到呢?
那麼我們先由一個硬盤的扇區分配說起。
在硬盤裏面,除了我們平時見到的用戶儲存數據工作區,其實還含着另外兩個區——固件區與保留區。
但在實際中,固件區與保留區,用戶是沒有辦法操作的,硬盤的實際扇區數比我們在標籤上見到的容量是要大的,(其實工廠在生產時,並不會只單獨開生產線1T或者 2T的硬盤,他們會批量生產好同一款的硬盤,通過設定好固件信息,去爲硬盤定義好容量。)在固件裏,工廠會定義好硬盤的容量,超過了容量的那些扇區,我們會稱他們爲保留區。
如圖(1)所示,藍色爲固件區,白色爲工作區,綠色爲保留區,紅色爲壞區。當紅色的壞扇區6還沒有加入Plist 或者Glist的時候,工作區的數字LAB 是由 0到29 ,第29之後就是保留區。
圖(1)
壞道 加入PLIST的情況
當壞道加入PLIST 之後,記錄地址在硬盤運行時候自動被跳過,硬盤不會再讀寫該扇區,所以該扇區的所有地址LAB值都發生了變化,第29區,會順延到保留扇區的一個扇區。由於所有的LAB都產生了變化,所以壞道被加入PLIST之後,是需要進行一次工廠的低格化。
圖(2)
圖(3)
壞道 加入GLIST的情況
當壞區加入到GLIST這後,硬盤需要讀到壞區所在的扇區,會被重新定位到保留區的一個扇區,硬盤區的其他扇區不會受到影響,LAB不會有變化。由於保留區是離工作區相對遠的區域,在內道,所以當磁頭讀取該扇區的數據時,需要移動較遠的距離,所以該LAB的讀取速度就會變慢,所以說加入GLIST之後,是會影響硬盤的讀寫速度。
下一節,我們來探討一下Glist錶轉Plist的實戰示範。