SL08型 釋光測量儀適用於熒光體和磷光體等發光材料的發光特性和發光機理的科學研究工作。測量儀可以對樣品進行x射線、紫外線原位照射，以及測量熱釋光和光釋光發光曲線，既可以讀出累計輻射劑量值，也可以進行發光材料的缺陷能級分析。測量程序具有參數編輯、發光曲線顯示、數據處理等功能。儀器採用最新模塊化設計，質量可靠，造型美觀，使用方便，功能豐富，溫度控制穩定，涉及多項專利技術。
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特點：
- 溫度重複性、穩定性優於0.5℃，高質量的發光曲線；
- 通過程序自行設定輻照、激發以及測量等功能，實現多種測量模式：熱釋光發光曲線；光釋光發光曲線；餘輝衰減曲線測量；
- 原位激發源（選配）：外接激發光源、X光源。
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主要技術性能：
- 溫度控制範圍：升溫速率爲0-50℃/s，變化間隔0.1℃/s，溫度可控範圍爲室溫500℃，溫度穩定性小於±0.5℃；
- 測量探頭：PMT探測器，光譜響應範圍300-650nm；計數率線性範圍大於2×106/s；銦鎵砷PMT探測器，光譜響應範圍800-1700nm（可選）；
- 光釋光測量模式：激發光源波長254nm，470nm，850nm可選；根據激發光源配用濾光片；
- 實時顯示發光曲線：儀器通過USB接口直接與主機連接，方便存取熱釋光發曲線；
- 儀器中參數可以根據用戶需要輸入，參數設置方式靈活，可實現多種測量模式；
- 配有氮氣接口，用於樣品保護；
- 儀器可以記錄多種數據信息，便於數據維護和管理；
- 本儀器可適用於各種形式的劑量計，樣品最大直徑爲Φ10mm×2mm；
- 提供配套的熱釋光分析軟件，內置熱釋光一級、二級、一般級動力學模型，並可進一步對對發光曲線進行擬合、解譜分析等。
詳細方案可諮詢北京熠新科技有限公司
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- 數據和處理軟件可以輸出多種數據格式，並可查閱和打印感興趣內容。數據獲取和處理軟件也可以輸出擬合分析結果至ASCII文件，兼容其他分析作圖軟件。
示例圖片：
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