SL08型 释光测量仪适用于荧光体和磷光体等发光材料的发光特性和发光机理的科学研究工作。测量仪可以对样品进行x射线、紫外线原位照射，以及测量热释光和光释光发光曲线，既可以读出累计辐射剂量值，也可以进行发光材料的缺陷能级分析。测量程序具有参数编辑、发光曲线显示、数据处理等功能。仪器采用最新模块化设计，质量可靠，造型美观，使用方便，功能丰富，温度控制稳定，涉及多项专利技术。
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特点：
- 温度重复性、稳定性优于0.5℃，高质量的发光曲线；
- 通过程序自行设定辐照、激发以及测量等功能，实现多种测量模式：热释光发光曲线；光释光发光曲线；余辉衰减曲线测量；
- 原位激发源（选配）：外接激发光源、X光源。
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主要技术性能：
- 温度控制范围：升温速率为0-50℃/s，变化间隔0.1℃/s，温度可控范围为室温500℃，温度稳定性小于±0.5℃；
- 测量探头：PMT探测器，光谱响应范围300-650nm；计数率线性范围大于2×106/s；铟镓砷PMT探测器，光谱响应范围800-1700nm（可选）；
- 光释光测量模式：激发光源波长254nm，470nm，850nm可选；根据激发光源配用滤光片；
- 实时显示发光曲线：仪器通过USB接口直接与主机连接，方便存取热释光发曲线；
- 仪器中参数可以根据用户需要输入，参数设置方式灵活，可实现多种测量模式；
- 配有氮气接口，用于样品保护；
- 仪器可以记录多种数据信息，便于数据维护和管理；
- 本仪器可适用于各种形式的剂量计，样品最大直径为Φ10mm×2mm；
- 提供配套的热释光分析软件，内置热释光一级、二级、一般级动力学模型，并可进一步对对发光曲线进行拟合、解谱分析等。
详细方案可咨询北京熠新科技有限公司
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- 数据和处理软件可以输出多种数据格式，并可查阅和打印感兴趣内容。数据获取和处理软件也可以输出拟合分析结果至ASCII文件，兼容其他分析作图软件。
示例图片：
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